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據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道,Merak1313 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)平板探測(cè)器是北京納米維景科技有限公司獨(dú)立自主研發(fā)的第一款平板探測(cè)器(Flat Panel Detector,F(xiàn)PD),其采用先進(jìn)的CMOS技術(shù),具有低劑量高質(zhì)成像、高分辨率、高靈敏度等特點(diǎn)。納米維景是繼美國(guó)、日本、韓國(guó)公司之后,中國(guó)第一家掌握此高端輻射探測(cè)器技術(shù)的公司

2017-11-24 10:07:00 · 風(fēng)電網(wǎng) 閱讀:402
據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道,Merak1313 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)平板探測(cè)器是北京納米維景科技有限公司獨(dú)立自主研發(fā)的第一款平板探測(cè)器(Flat Panel Detector,F(xiàn)PD),其采用先進(jìn)的CMOS技術(shù),具有低劑量高質(zhì)成像、高分辨率、高靈敏度等特點(diǎn)。納米維景是繼美國(guó)、日本、韓國(guó)公司之后,中國(guó)第一家掌握此高端輻射探測(cè)器技術(shù)的公司

據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道,Merak1313 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)平板探測(cè)器是北京納米維景科技有限公司獨(dú)立自主研發(fā)的第一款平板探測(cè)器(Flat Panel Detector,F(xiàn)PD),其采用先進(jìn)的CMOS技術(shù),具有低劑量高質(zhì)成像、高分辨率、高靈敏度等特點(diǎn)。納米維景是繼美國(guó)、日本、韓國(guó)公司之后,中國(guó)第一家掌握此高端輻射探測(cè)器技術(shù)的公司。

中國(guó)首款CMOS平板探測(cè)器:Merak1313

自1955年RSNA(Radiological Society of North America)上推出第一臺(tái)平板探測(cè)器設(shè)備以來(lái),如今平板探測(cè)技術(shù)已經(jīng)取得了飛躍性的發(fā)展。隨著數(shù)字化醫(yī)療市場(chǎng)的興起,平板探測(cè)器的市場(chǎng)容量也越來(lái)越大。據(jù)麥姆斯咨詢調(diào)研數(shù)據(jù)顯示,2017年全球X射線探測(cè)器市場(chǎng)規(guī)模約為25.3億美元,預(yù)計(jì)2022年將達(dá)到33.1億美元,2017-2022年期間的復(fù)合增長(zhǎng)率為5.6%。預(yù)計(jì)未來(lái)幾年,平板探測(cè)器將占據(jù)全球X射線探測(cè)器市場(chǎng)最大的份額。

近幾年,我國(guó)平板探測(cè)器市場(chǎng)需求呈現(xiàn)逐年上升的趨勢(shì)。隨著平板探測(cè)器行業(yè)全球范圍內(nèi)市場(chǎng)需求的不斷擴(kuò)大增長(zhǎng),探測(cè)器的國(guó)產(chǎn)化也迎來(lái)了新的發(fā)展機(jī)遇和挑戰(zhàn)。納米維景正是抓住了這一機(jī)遇,秣馬厲兵助力中國(guó)智造,自主創(chuàng)新,精益求精,打造出中國(guó)第一款CMOS平板探測(cè)器。

Merak1313匯集了多重優(yōu)勢(shì),基于性能優(yōu)異的針狀CsI閃爍體和高靈敏度CMOS感光芯片,其可用更低的劑量獲得更清晰的圖像,同時(shí)動(dòng)態(tài)范圍也進(jìn)一步提高,最大可達(dá)76dB。探測(cè)器內(nèi)集成了四檔增益,可以滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景的需要。相對(duì)靜態(tài)成像,Merak1313可以做到全分辨率和全視野下的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)成像,最高采集幀速率可達(dá)60fps。另外,為了最大化發(fā)揮探測(cè)器性能,硬件中嵌入了實(shí)時(shí)校準(zhǔn)算法,以便于客戶選取調(diào)用。

納米維景致力于輻射成像領(lǐng)域,追求高速高精度輻射成像,滿足客戶需求,創(chuàng)造共同成就。Merak系列CMOS平板探測(cè)器,不僅可以為客戶提供高質(zhì)量體驗(yàn),還可以輕松擴(kuò)展到不同的應(yīng)用,降低成本,為客戶提供靈活的數(shù)字輻射成像解決方案。

納米維景Merak1313的測(cè)試圖

完美應(yīng)用于輻射成像領(lǐng)域

Merak系列CMOS平板探測(cè)器,可廣泛應(yīng)用于牙科CBCT、工業(yè)無(wú)損檢測(cè)等X射線成像領(lǐng)域。目前,Merak1313是Merak系列CMOS平板探測(cè)器標(biāo)準(zhǔn)型號(hào),納米維景正在開(kāi)發(fā)更多的型號(hào)以滿足不同應(yīng)用,以及客戶的定制化要求。

納米維景無(wú)疑又交出了一份優(yōu)異的成績(jī)單,這在中國(guó)CMOS平板探測(cè)器領(lǐng)域描繪了濃重的一筆。

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