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綜合電子系統(tǒng)的測(cè)試過(guò)程是整個(gè)系統(tǒng)研制成敗的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。目前的電子系統(tǒng)復(fù)雜度越來(lái)越高,因此帶來(lái)的測(cè)試復(fù)雜度也相應(yīng)提高

2018-03-14 11:03:30 · 工業(yè)電器網(wǎng) 閱讀:286
綜合電子系統(tǒng)的測(cè)試過(guò)程是整個(gè)系統(tǒng)研制成敗的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。目前的電子系統(tǒng)復(fù)雜度越來(lái)越高,因此帶來(lái)的測(cè)試復(fù)雜度也相應(yīng)提高
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